污秽中CaSO4质量分数对XWP2-160瓷绝缘子串交流污闪特性的影响

被引：8

作者：

黄道春 ^{[1
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熊紫腾 ^{[1
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张虎 ^{[1
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阮江军 ^{[1
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徐涛 ^{[2
]}

万小东 ^{[2
]}

机构：

[1] 武汉大学电气工程学院

[2] 中国电力科学研究院

来源：

高电压技术 | 2016年 / 42卷 / 12期

关键词：

CaSO4; 瓷绝缘子; 污耐压; 可溶性物质密度; 附灰密度; 泄漏电流峰值;

D O I：

10.13336/j.1003-6520.hve.20161128012

中图分类号：

TM216 [绝缘子和套管]; TM75 [线路及杆塔];

学科分类号：

摘要：

输电线路绝缘子在自然条件下表面积污成分中含有大量的CaSO4,而污秽中CaSO4对绝缘子污闪特性产生较大的影响。为此,以7片XWP2-160型绝缘子串为试品,在人工雾室中进行了人工污秽试验,研究了CaSO4对绝缘子污耐压及泄漏电流的影响规律。研究表明:随着CaSO4质量分数的增加,绝缘子串污耐压呈幂函数形式递增,泄漏电流峰值递减;在CaSO4作用下,可溶性物质密度（SCD）对绝缘子污耐压的影响程度是附灰密度NSDD影响程度的1.45～1.7倍,SCD对绝缘子泄漏电流峰值的影响程度是附灰密度（NSDD）影响程度的3～4倍;随着污秽度的提高,CaSO4质量分数的改变对绝缘子污耐压的影响逐渐增大;随着CaSO4质量分数的增大,SCD、NSDD的改变对绝缘子污耐压及泄漏电流峰值的影响逐渐减小。研究结果可为输电线路外绝缘设计和运维提供参考。

引用

页码：3803 / 3809

页数：7

共 15 条

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