污秽成分对XP-160绝缘子串交流闪络特性的影响

被引：27

作者：

张志劲 ^{[1
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张东东 ^{[1
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袁超 ^{[1
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蒋兴良 ^{[1
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刘小欢 ^{[1
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胡建林 ^{[1
]}

机构：

[1] 重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室

[2] 江苏方天电力技术有限公司

来源：

高电压技术 | 2014年 / 40卷 / 07期

关键词：

绝缘子; 污秽成分; 污层电导率; 积分电导率; 闪络电压; 等值盐密;

D O I：

10.13336/j.1003-6520.hve.2014.07.007

中图分类号：

TM216 [绝缘子和套管];

学科分类号：

摘要：

为研究不同污秽成分下绝缘子的污闪特性,以XP-160标准瓷绝缘子为研究对象,通过人工污秽试验测量了不同盐密、不同污秽成分下绝缘子的闪络电压和积分电导率,分析了盐密以及污秽成分对2者的影响,并得到了其污闪特性。结果表明:随着NaCl质量分数的减小和CaSO4质量分数的增加,绝缘子串闪络电压将明显提高;当可溶性物质污秽密度一定时,随着污秽成分中CaSO4质量分数的增加,积分电导率值减小;根据不同污秽成分对电导率的贡献,混合盐换算为等价的NaCl无法完全解释污秽成分对绝缘子污秽闪络电压的影响,因此在进行自然污秽测试时需考虑不同成分的物理化学特性以及对电弧发展影响等因素。该研究结果可供输电线路外绝缘的设计和选择参考。

引用

页码：1970 / 1976

页数：7

共 18 条

[1] 污秽不均匀度对XP-160绝缘子串交流闪络特性的影响 [J].