基于激光技术的亚纳米级位移测量系统的研究

被引:22
作者
曲兴华 [1 ]
王丽华 [1 ,2 ]
机构
[1] 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室
[2] 上海计量测试技术研究院
关键词
精密测量; 亚纳米级位移; 激光多普勒技术; 偏振干涉;
D O I
10.19650/j.cnki.cjsi.2010.06.013
中图分类号
TH822 [位移测量仪表];
学科分类号
摘要
研究和开发一种基于激光技术的新型亚纳米级位移测量系统。在马赫-曾德干涉仪的基础上进行改进,结合激光多普勒技术和激光偏振干涉技术,设计新型激光干涉测量光路,具有抗干扰能力更强、光路简单、易于安装调试等特点。将DSP技术引入激光干涉仪的信号处理系统,研究改进的8细分算法,完成对干涉条纹的细分、辨向和计数功能。经实验分析和研究证明,测量分辨力达到0.16 nm,运行速度可达0.14 mm/s,量程可达4μm,上述方法有效可行,可实现被测物体的亚纳米级位移测量。
引用
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页码:1276 / 1281
页数:6
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