基于近红外和中红外光谱技术的小麦粉品质检测及掺杂鉴别方法

被引:13
作者
徐一茹
刘翠玲
孙晓荣
吴胜男
董秀丽
机构
[1] 北京工商大学计算机与信息工程学院
关键词
小麦粉; 近红外光谱; 中红外光谱; 偏最小二乘法; 聚类分析;
D O I
暂无
中图分类号
TS211.7 [产品标准与检验]; O657.33 [红外光谱分析法];
学科分类号
摘要
针对国家标准法检测小麦粉品质的传统方法存在一定缺陷,提出基于近红外光谱和中红外光谱技术快速检测面粉的方法,并基于偏最小二乘法建立了矫正模型,对小麦粉的灰分、水分、面筋品质指标进行了分析。对于小麦粉的掺杂鉴别问题,基于标准法测光谱距离建立了聚类分析模型,结果表明,可实现对小麦面粉品质的快速检测及掺杂鉴别。
引用
收藏
页码:128 / 132
页数:5
相关论文
共 23 条