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- [1] 智能机内测试理论与应用.[M].温熙森等著;.国防工业出版社.2002,
机载电子设备BIT技术研究
被引：16
作者：
王香
[1
]
汪远银
[2
]
徐忠锦
[1
]
机构：
[1] 北京青云航空仪表有限公司
[2] 北京精密机电控制设备研究所
来源：
关键词：
电子设备;
BIT;
机内自测试;
虚警;
D O I：
10.19652/j.cnki.femt.2014.08.015
中图分类号：
V243 [电子设备];
学科分类号：
摘要：
BIT(built-in test)技术是影响机载电子设备的测试性、维修性和保障性的关键问题之一,如何合理有效地设计BIT是BIT技术研究的重要内容。首先,对BIT技术发展的现状进行总结并指出所存在的问题。然后,结合实际工程经验总结出了规范BIT设计的要求和方法,同时对BIT中常出现的虚警问题进行了原因分析,并分别从软件和硬件上给出了减少虚警的方法。实践表明,以上方法能有效的减少虚警的出现。
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