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机载电子设备BIT技术研究
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作者
:
王香
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北京青云航空仪表有限公司
北京青云航空仪表有限公司
王香
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汪远银
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北京精密机电控制设备研究所
北京青云航空仪表有限公司
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徐忠锦
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北京青云航空仪表有限公司
北京青云航空仪表有限公司
徐忠锦
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1
]
机构
:
[1]
北京青云航空仪表有限公司
[2]
北京精密机电控制设备研究所
来源
:
国外电子测量技术
|
2014年
/ 33卷
/ 08期
关键词
:
电子设备;
BIT;
机内自测试;
虚警;
D O I
:
10.19652/j.cnki.femt.2014.08.015
中图分类号
:
V243 [电子设备];
学科分类号
:
摘要
:
BIT(built-in test)技术是影响机载电子设备的测试性、维修性和保障性的关键问题之一,如何合理有效地设计BIT是BIT技术研究的重要内容。首先,对BIT技术发展的现状进行总结并指出所存在的问题。然后,结合实际工程经验总结出了规范BIT设计的要求和方法,同时对BIT中常出现的虚警问题进行了原因分析,并分别从软件和硬件上给出了减少虚警的方法。实践表明,以上方法能有效的减少虚警的出现。
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