机载电子设备BIT技术研究

被引:16
作者
王香 [1 ]
汪远银 [2 ]
徐忠锦 [1 ]
机构
[1] 北京青云航空仪表有限公司
[2] 北京精密机电控制设备研究所
关键词
电子设备; BIT; 机内自测试; 虚警;
D O I
10.19652/j.cnki.femt.2014.08.015
中图分类号
V243 [电子设备];
学科分类号
摘要
BIT(built-in test)技术是影响机载电子设备的测试性、维修性和保障性的关键问题之一,如何合理有效地设计BIT是BIT技术研究的重要内容。首先,对BIT技术发展的现状进行总结并指出所存在的问题。然后,结合实际工程经验总结出了规范BIT设计的要求和方法,同时对BIT中常出现的虚警问题进行了原因分析,并分别从软件和硬件上给出了减少虚警的方法。实践表明,以上方法能有效的减少虚警的出现。
引用
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