稀土元素发射光谱分析的进展

被引：5

作者：

潘凤仪

机构：

[1] 北京有色金属研究总院

来源：

分析试验室 | 1989年 / 05期

关键词：

发射光谱分析; 稀土元素; ⅢB族元素; 稀土杂质; 火花光源; 化学光谱法; 测定下限; 高纯稀土氧化物;

D O I：

10.13595/j.cnki.issn1000-0720.1989.0088

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

本文综述了1982-1987上半年间稀土元素发射光谱分析的进展。内容包括电弧、火花、电感耦合等离子体、直流等离子体、空心阴极放电等光谱分析,也涉及化学光谱法。

引用

页码：42 / 47

页数：6

共 23 条

[1] ICP-AES分析高纯氧化镥中痕量稀土杂质的研究 [J].

潘凤仪 ;

谭保凤 ;

董国全 .

中国稀土学报, 1987, (04) :55-60

[2] ICP—AES对铸铁中微量稀土元素La、Ce、Pr、Nd、Sm的测定——基体干扰及其校正方法讨论 [J].

马锦秋 ;

王雁飞 ;

吴跃英 ;

不详 .

冶金分析 , 1987, (01) :36-39

[3] 稀土光谱分析缓冲剂的选择及机制研究 [J].

魏继中 ;

齐鲁 .

高等学校化学学报, 1986, (02) :116-120

[4] P507萃淋树脂色谱分离-光谱测定高纯铽中稀土杂质 [J].

刘衡镇 .

湖南有色金属, 1985, (06) :45-49

[5] P-538氧化萃取化学光谱法测定高纯氧化铈中14个稀土元素 [J].

王大震 ;

费声瑚 ;

马志诚 .

稀有金属, 1984, (04) :52-56

[6] 高纯氧化镧中稀土杂质的化学光谱分析 [J].

陈见微 ;

李能 ;

陈凤翔 .

中国稀土学报, 1984, (01) :82-87

[7] P507萃淋树脂化学光谱法测定高纯氧化镧中痕量稀土杂质 [J].

翁永和 .

光谱实验室, 1984, (01) :37-42+58

[8]

岩石中十五个稀土元素的分离与测定[J]. 伊丽莹,王德恭,胡仁桥,张凤秋.中国科学(B辑化学生物学农学医学地学). 1984(02)

[9] P507萃淋树脂光谱法测定纯氧化钐中稀土元素 [J].

吴惠山 ;

成世昌 .

稀土, 1984, (01) :57-59+62

[10] 微量稀土光谱分析中载体作用的研究——周期表ⅠB,ⅡB族氯化物、氧化物载体的作用和选择 [J].

陈凤翔 ;

郭湘玲 .

稀有金属, 1983, (06) :35-40

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