一种测量亚像元CCD拼接误差的方法

被引：3

作者：

汶德胜

王虎

乔卫东

机构：

[1] 中国科学院西安光学精密机械研究所空间光学室

[2] 中国科学院西安光学精密机械研究所空间光学室陕西西安　

[3] 陕西西安　

来源：

关键词：

亚像元CCD; 拼接; 精密测量; 误差;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP274.4 [];

学科分类号：

摘要：

提出一种利用高倍率显微计算机系统(由工具显微镜、CCD摄像头、配有图像采集卡的计算机及相关软件等组成)测量亚像元CCD拼接误差的方法。建立了测量模型,并对实测结果进行了统计分析处理。

引用

页码：40 / 42

页数：3

共 6 条

[1]

误差理论与数据处理.[M].费业泰主编;.机械工业出版社.2000,

[2]

CCD应用技术.[M].王庆有编著;.天津大学出版社.2000,

[3] 亚象元线阵CCD焦平面的光学拼接附视频 [J].

刘新平 ;

王虎 ;

汶德胜 .

[4] 线阵CCD用于实时动态测量技术研究 [J].

李长贵 ;

刘敬海 ;

林幼娜 ;

孙智勇 .

[5] CCD细分技术用于刻线的自动瞄准 [J].

乔瑞军 ;

沈忙作 .

[6] CCD测望远系统放大率 [J].

刘秉琦 ;

沈学举 .