基于高光谱技术的长枣内外品质同时检测

被引：8

作者：

徐爽 ^{[1
,2
]}

何建国 ^{[1
]}

贺晓光 ^{[3
]}

易东 ^{[2
]}

刘贵珊 ^{[3
]}

王松磊 ^{[3
]}

机构：

[1] 宁夏大学物理电气信息学院

[2] 银川能源学院电力系

[3] 宁夏大学农学院

来源：

光电子激光. | 2013年 / 24卷 / 10期

关键词：

高光谱成像技术; 长枣; 轻微损伤; 果肉硬度; 无损检测;

D O I：

10.16136/j.joel.2013.10.008

中图分类号：

O657.33 [红外光谱分析法]; S665.1 [枣];

学科分类号：

摘要：

采用近红外高光谱成像技术,对长枣表面轻微损伤和果肉硬度进行无损检测。在970～1 630nm波长范围内对高光谱图像数据进行主成分分析(PCA),得到第3主成分图像最适合检测长枣表面损伤。波段比(BR)算法中,选取1 387nm和1 229nm两个波段的图像进行比值运算,采用1 455nm单波段图像构建掩膜作用于比值图像,最后对图像进行阈值分割和形态学变换完成损伤区域的特征提取。BR算法检测长枣轻微损伤的准确率达到91.5%。对反射光谱进行多元散射校正(MSC)后与长枣果肉硬度值进行回归分析,选择相关系数较大的5个特征波长作为BP神经网络输入,建立果肉硬度预测模型。预测集相关系数R和均方根误差(RMSEP)分别为0.904 2和15.163 1。研究结果表明,利用高光谱成像技术可以实现长枣内外品质同时检测。

引用

页码：1972 / 1976

页数：5

共 14 条

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