利用高光谱图像技术检测梨表面碰压伤的试验研究

以梨为研究对象,初步探讨了应用高光谱图像技术检测梨表面碰压伤的方法。采集梨在400～1 000nm范围的高光谱图像,应用主成分分析方法(PCA)获得主成分图像,根据第三主成分图像(PC-3)中各波长的权重,选出特征波长,分别是572nm、696nm和945nm。经过适当的图像处理方法对梨表面的碰压伤进行检测。检测结果表明,高光谱技术对检测梨表面碰压伤效果非常明显。