Si纳米量子点的LPCVD自组织化形成及其生长机理研究

被引:8
作者
彭英才
池田弥央
宫崎诚一
机构
[1] 河北大学电子信息工程学院
[2] 广岛大学电气工学系
[3] 大学院先端物质科学研究科
[4] 大学院先端物质科学研究科 保定
[5] 中国科学院半导体研究所半导体材料科学重点实验室
[6] 北京
[7] 日本广岛
关键词
Si纳米量子点; LPCVD; 自组织化形成; 生长机理;
D O I
暂无
中图分类号
O484 [薄膜物理学];
学科分类号
080501 ; 1406 ;
摘要
采用低压化学汽相沉积 (LPCVD)方法 ,依靠纯SiH4 气体分子的表面热分解反应 ,在由Si—O—Si键和由Si—OH键终端的两种SiO2 表面上 ,自组织生长了Si纳米量子点 .实验研究了所形成的Si纳米量子点密度随SiO2 表面的反应活性位置数、沉积温度以及反应气压的变化关系 .依据LPCVD的表面热力学过程 ,定性地分析了Si纳米量子点的形成机理 .研究结果对具有密度分布均匀和晶粒尺寸可控的Si纳米量子点的自组织生长 ,以及Si基新型量子电子器件的制备具有重要的实际意义 .
引用
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页码:3108 / 3113
页数:6
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