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双极型晶体管损坏与强电磁脉冲注入位置的关系附视频
被引:19
作者
:
周怀安
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机构:
清华大学电子工程系微波与数字通信技术国家重点实验室
周怀安
杜正伟
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清华大学电子工程系微波与数字通信技术国家重点实验室
杜正伟
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机构:
龚克
机构
:
[1]
清华大学电子工程系微波与数字通信技术国家重点实验室
来源
:
强激光与粒子束
|
2006年
/ 04期
关键词
:
2维器件数值模拟;
电磁脉冲;
双极型晶体管;
烧毁;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN322.8 [];
学科分类号
:
0805 ;
080501 ;
080502 ;
080903 ;
摘要
:
利用时域有限差分法,对双极型晶体管(BJT)在强电磁脉冲作用下的瞬态响应进行了2维数值模拟,研究了电磁脉冲从不同极板注入时BJT的响应情况,根据温度分布的集中程度分析了发生烧毁的难易程度。模拟得出:发射极注入最容易导致烧毁,集电极注入次之,基极注入相对不易导致烧毁;发射极注入烧毁所消耗能量随着脉冲电压上升而下降,到30 V以后基本与电压的升高无关,集电极注入烧毁所消耗的能量则随着电压上升而上升,到100 V以后由于BE结上热点的出现而开始下降。
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双极型晶体管在强电磁脉冲作用下的瞬态响应
[J].
周怀安
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双极型晶体管在强电磁脉冲作用下的瞬态响应
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周怀安
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