双极型晶体管损坏与强电磁脉冲注入位置的关系附视频

被引:19
作者
周怀安
杜正伟
龚克
机构
[1] 清华大学电子工程系微波与数字通信技术国家重点实验室
关键词
2维器件数值模拟; 电磁脉冲; 双极型晶体管; 烧毁;
D O I
暂无
中图分类号
TN322.8 [];
学科分类号
0805 ; 080501 ; 080502 ; 080903 ;
摘要
利用时域有限差分法,对双极型晶体管(BJT)在强电磁脉冲作用下的瞬态响应进行了2维数值模拟,研究了电磁脉冲从不同极板注入时BJT的响应情况,根据温度分布的集中程度分析了发生烧毁的难易程度。模拟得出:发射极注入最容易导致烧毁,集电极注入次之,基极注入相对不易导致烧毁;发射极注入烧毁所消耗能量随着脉冲电压上升而下降,到30 V以后基本与电压的升高无关,集电极注入烧毁所消耗的能量则随着电压上升而上升,到100 V以后由于BE结上热点的出现而开始下降。
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