直流磁控溅射铬膜附着性的影响因素研究

被引:2
作者
刘宗贺 [1 ]
方雪冰 [1 ]
刘波 [1 ]
凌味未 [2 ]
机构
[1] 深圳深爱半导体有限公司
[2] 电子科技大学
关键词
直流磁控溅射; 铬膜; 附着性; 表面粗糙度; 退火; 膜厚; 离子轰击;
D O I
暂无
中图分类号
TB43 [薄膜技术];
学科分类号
0805 ;
摘要
讨论了采用直流磁控溅射法在锆合金表面镀铬时,基体的粗糙度、退火工艺、薄膜厚度及溅射前的基体离子轰击对铬薄膜附着性的影响。以自动划痕测试仪测试样品的膜/基结合力,结果表明:退火处理能大幅度增强铬膜的附着性;薄膜厚度的增加却会使其附着性降低;而基体粗糙度对附着性并无大的影响。
引用
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页码:31 / 32+43 +43
页数:3
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彭倩 ;
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功能材料, 2000, (03) :306-307