模拟VLSI电路故障诊断的子带特征提取方法

被引：3

作者：

谢永乐

李西峰

机构：

[1] 电子科技大学自动化工程学院

来源：

四川大学学报(工程科学版) | 2007年 / 05期

关键词：

模拟电路测试; 故障诊断; 小波滤波器组; 相关系数; 特征提取;

D O I：

10.15961/j.jsuese.2007.05.031

中图分类号：

TN431.1 [线性集成电路、模拟集成电路];

学科分类号：

080903 ; 1401 ;

摘要：

为了降低模拟电路参数型故障的测试难度,提出了一种基于奥克塔夫(Octave)-Haar小波结构的模拟VLSI电路故障诊断方法。将测试响应经小波滤波器组完成子带滤波,随后对各子带滤波序列计算故障子序列与正常子序列的互相关系数,对每一故障,可确定出互相关系数最小的子带,并将此数值作为该故障的特征,对应子带的正常响应序列的自相关系数作为无故障特征,用故障特征与正常特征的对比可诊断故障。对国际标准电路的实验表明,该方法对参数型故障的诊断已具有高分辨率。

引用

页码：149 / 154

页数：6

共 9 条

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