基于专利计量的集成电路制造技术创新能力分布研究

被引:15
作者
刘云
闫哲
程旖婕
谭龙
机构
[1] 北京理工大学管理与经济学院
关键词
集成电路制造; 专利计量分析; 技术创新能力; 国际比较;
D O I
10.13581/j.cnki.rdm.2016.03.005
中图分类号
TN405 [制造工艺];
学科分类号
摘要
通过建立集成电路制造技术领域分类体系,确定专利信息检索策略,对德温特专利数据库进行专利信息下载、清理,采用专利计量方法,分析了1974—2013年全球集成电路制造各技术领域专利的时间分布特征,探讨了各技术领域的创新发展趋势;通过"专利地位—专利质量"二维分析矩阵比较分析了集成电路制造各技术领域美国、日本、中国所处的地位.研究发现,中国在集成电路各技术领域的创新能力与美、日等领先国家均有较大差距,未来在重点推动封装技术、退火技术、平坦化工艺3个技术领域创新发展的同时,还应加强对先进技术的引进、消化、吸收、再创新.最后,提出了今后中国集成电路制造重点技术发展方向的若干建议.
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