共 11 条
基于高分辨一维像的目标特征提取方法
被引：16
作者：
徐庆
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机构: 南京电子技术研究所
王秀春
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机构: 南京电子技术研究所
李青
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机构: 南京电子技术研究所
机构：
[1] 南京电子技术研究所
来源：
关键词：
高分辨一维像;
姿态敏感性;
平移敏感性;
特征提取;
D O I：
10.16592/j.cnki.1004-7859.2009.06.014
中图分类号：
TN957.52 [数据、图像处理及录取];
学科分类号：
摘要：
雷达高分辨一维像反映了目标的精细结构和材料质地,但它具有姿态敏感性和平移敏感性,直接利用一维像进行目标识别难以取得理想的效果。文中基于雷达高分辨一维像,提出了能量聚集区长度、强散射中心数目、一维像序列的方差和"信源熵"等4个具有平移不变性的特征概念,将其构成特征向量,并用实测数据验证其可行性和有效性,取得了较好的效果。
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