低温胁迫对仁用杏几个抗寒生理指标的影响

被引：49

作者：

郑元 ^{[1
]}

杨途熙 ^{[1
]}

魏安智 ^{[1
]}

宋晓军 ^{[2
]}

杨向娜 ^{[1
]}

机构：

[1] 西北农林科技大学林学院

[2] 眉县林业调查设计局

来源：

西北农林科技大学学报(自然科学版) | 2008年 / 01期

关键词：

仁用杏; 低温协迫; 抗寒性; 萌芽率; 电解质渗出率; 可溶性糖; 丙二醛;

D O I：

10.13207/j.cnki.jnwafu.2008.01.024

中图分类号：

S662.2 [杏];

学科分类号：

090201 ;

摘要：

【目的】探讨仁用杏抗寒性与膜透性、可溶性糖及膜脂过氧化的关系。【方法】采用人工模拟低温处理,对低温胁迫下一窝蜂、优一和龙王帽3种仁用杏枝条的萌芽率、电解质渗出率、可溶性糖含量及MDA含量的变化进行了研究分析。【结果】供试的3种仁用杏品种中,一窝蜂的抗寒能力略强于优一,但显著大于龙王帽。随着低温胁迫的加剧,仁用杏电解质渗出率、可溶性糖含量上升,MDA含量呈"先上升后下降"的变化趋势。【结论】电解质渗出率、MDA含量与抗寒性密切相关,可作为仁用杏抗寒性的鉴定指标;可溶性糖含量与抗寒性相关不密切,不宜作为仁用杏抗寒性的鉴定指标。

引用

页码：163 / 167

页数：5

共 12 条

[1] 重金属对大麦幼苗膜脂过氧化及脯氨酸和可溶性糖含量的影响 [J].