傅里叶变换-红外光谱法快速测定面粉中滑石粉

被引:5
作者
赵延华
韩旭
机构
[1] 辽宁省分析科学研究院辽宁省标准化体系建设工程技术研究中心
关键词
傅里叶变换红外光谱法; 衰减全反射; 面粉; 滑石粉;
D O I
暂无
中图分类号
O657.33 [红外光谱分析法]; TS211.7 [产品标准与检验];
学科分类号
摘要
提出了应用衰减全反射(ATR)傅里叶变换-红外光谱(FT-IRS)法快速检测面粉中混入的滑石粉,测定中采用中红外检测器。根据滑石粉的标准红外光谱图并为避免面粉的吸收干扰,选择滑石粉在3 674.96 cm-1及668.16 cm-1两处的特征吸收峰作为判定面粉中是否含有滑石粉的依据,并且其吸收强度随滑石粉含量的增加而增加。由于面粉中滑石粉质量分数低于0.5%和0.2%时,分别在上述两吸收峰波长处已不呈现吸收,方法中将1%(质量分数)作为滑石粉的检出限。此外,根据吸收峰的吸收强度可估算出滑石粉的含量。方法中选用的主要仪器工作条件为:①扫描范围为4 000~650 cm-1;②分辨率为8 cm-1;③扫描信号累加次数为32;④衰减全反射压力常数为100。
引用
收藏
页码:208 / 210
页数:3
相关论文
共 2 条
  • [1] 面粉中滑石粉的X射线检验法
    由健
    刘成雁
    林雪征
    [J]. 科协论坛(下半月), 2009, (01) : 85 - 86
  • [2] 面粉中滑石粉的X射线衍射分析
    王承明
    潘峰
    高滢
    吴谋成
    [J]. 分析科学学报, 2006, (06) : 651 - 654