数字电路测试中的关键技术研究

被引：18

作者：

郭希维

苏群星

谷宏强

机构：

[1] 解放军军械工程学院导弹工程系

来源：

关键词：

测试与诊断; 故障模型; 可测试性度量; ATPG;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN79 [数字电路];

学科分类号：

080902 ;

摘要：

随着数字电路的广泛应用,电路的测试与故障诊断已成为其设计与生产过程的重要组成部分。讨论了电路的测试及故障诊断中的一些问题,主要包括故障模型、故障仿真、故障压缩及可测试性度量与测试矢量生成算法(ATPG),并研究了电路测试技术的发展趋势。

引用

页码：2903 / 2905+2985 +2985

页数：4

共 5 条

[1]

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