基于虚拟仪器的电子器件低频噪声测试分析系统

被引：22

作者：

包军林

庄奕琪

杜磊

李伟华

机构：

[1] 西安电子科技大学微电子研究所

[2] 西安电子科技大学微电子研究所西安710071

来源：

关键词：

低频噪声; 虚拟仪器; 可靠性筛选;

D O I：

10.19650/j.cnki.cjsi.2004.s1.153

中图分类号：

TN606 [测试、调整及设备];

学科分类号：

080903 ;

摘要：

低频噪声已经作为一个重要的参量用于军用电子元器件的可靠性筛选和评估。介绍了一种基于虚拟仪器的电子器件低频噪声测试分析系统。与传统以通用仪器组建的噪声测试系统相比,不仅成本低,而且实现了电子器件低频噪声的实时、快速测量,并可对其各个表征参量进行准确的分析和提取。

引用

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