用双频栅测三维物体的形状

被引：4

作者：

江桂荣

胡长华

机构：

[1] 包头市职业技术学院车辆工程系

[2] 北京理工大学力学系

来源：

实验力学 | 2002年 / 01期

关键词：

三维轮廓术; 去包裹; 双频栅;

D O I：

暂无

中图分类号：

O348.1 [光测法];

学科分类号：

摘要：

本文介绍了一种新的相位测量轮廓术 ,通过使用不同栅距的栅获得两幅包裹相位图 ,然后比较这两幅包裹相位图 ,求得物体上任一像素点的绝对相位值 ,从而确定物体上任一点的高度 .这种方法的优点是实验过程简单 ,精度高 ,相位的求解在整个过程中是单独进行的 ,不需借助相邻点 ,所以求得的相位值是各点的绝对相位 ,而且它可测量高度上中跳跃的物体的面形 .

引用

页码：111 / 115

页数：5

共 4 条

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