星载成像光谱仪杂散光测量与修正

被引:12
作者
张军强 [1 ,2 ]
吴清文 [1 ]
颜昌翔 [1 ]
机构
[1] 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
[2] 中国科学院研究生院
关键词
成像光谱仪; 杂散光; 杂散光测量; 点扩散函数;
D O I
暂无
中图分类号
TH744.1 [];
学科分类号
摘要
分析了星载成像光谱仪杂散光的来源和危害,研究了杂散光对此类光谱仪光谱测量精度的影响。介绍了用点扩散函数描述成像光谱仪杂散光的原理,推导了杂散光影响矩阵和杂散光修正矩阵的求解,给出了杂散光测量和修正的具体方案,并对测量和修正精度进行了分析。实验表明,基于点扩散函数的矩阵法可实现成像光谱仪杂散光的测量和修正。像元中心波长入射时,修正后有效信号降低不足1%,杂散光信号降低至少99%;像元中心波长和非像元中心波长同时入射时,修正后像元中心波长处有效信号降低7%左右,非像元中心波长处有效信号降低25%左右,杂散光信号降低近50%。最后,从原理上解释了杂散光修正效果受入射光波长影响的原因。
引用
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