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基于Rife-Vincent窗频谱校正的介损因数测量
被引：8
作者：
高云鹏
李峰
陈婧
曹一家
机构：
[1] 湖南大学电气与信息工程学院
基金：
中国博士后科学基金;
湖南省自然科学基金;
关键词：
介质损耗因数;
Rife-Vincent窗;
改进FFT;
谐波分析法;
误差分析;
D O I：
暂无
中图分类号：
TM934.32 [介质损失测量];
学科分类号：
080402 [测试计量技术及仪器];
摘要：
为减轻非同步采样和数据截断产生频谱泄漏和栅栏效应对介质损耗因数tanδ测量的影响,可选用旁瓣峰值电平小、且渐近衰减速率大的窗函数对信号加权处理.本文分析了Rife-Vincent窗的旁瓣特性,提出了基于Rife-Vincent窗频谱校正的tanδ测量方法,运用多项式拟合求出了计算简单、实用的校正公式,推导了介质损耗角及tanδ的计算式,并设计了基于AD73360L+ADSP-BF531+PIC32MX460F512L架构的介质损耗因数测量系统.仿真和实测结果表明,Rife-Vincent窗函数可有效抑制频谱泄漏,基于Rife-Vincent窗的频谱校正方法克服了谐波畸变干扰、电网频率波动、采样时长变化及白噪声对tanδ测量的影响,且设计实现简单,测量结果精确、稳定.介质损耗因数测量系统的应用实践证明了本文方法的正确性.
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