用不同的Mo靶溅射功率制备Mo/Si多层膜

被引:9
作者
秦俊岭
邵建达
易葵
机构
[1] 中国科学院上海光学精密机械研究所
关键词
Mo靶; Mo/Si多层膜; 溅射功率; 软X射线; 反射率;
D O I
暂无
中图分类号
O484.1 [薄膜的生长、结构和外延];
学科分类号
080501 ; 1406 ;
摘要
用磁控溅射法制备了周期厚度和周期数均相同的Mo/Si多层膜,用原子力显微镜和小角X射线衍射分别研究了Mo靶溅射功率不相同时,Mo/Si多层膜表面形貌和晶相的变化。随后在国家同步辐射实验室测量了Mo/Si多层膜的软X射线反射率。研究发现,随着Mo靶溅射功率的增大,Mo/Si多层膜的表面粗糙度增加,Mo的特征X射线衍射峰也增强,Mo/Si多层膜的软X射线峰值反射率先增大后减小。
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