共 5 条
FPGA中宽边译码器的测试方法研究
被引:8
作者:
廖永波
李平
阮爱武
李文昌
李威
机构:
[1] 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室
来源:
关键词:
FPGA;
宽边译码器;
测试方法;
配置图形;
测试向量;
D O I:
10.19650/j.cnki.cjsi.2010.07.033
中图分类号:
TN791 [];
学科分类号:
080902 ;
摘要:
现有的关于FPGA的测试主要集中在可编程逻辑和互连线资源,而没有涉及FPGA中的宽边译码器的测试。本文提出了一种测试FPGA中宽边译码器的方法,该方法实现了FPGA中的宽边译码器的逻辑资源及其相连的长线资源的全覆盖测试。该实验采用Xilinx公司的XC4000E系列芯片,在基于SOC软硬件协同技术的FPGA自动测试系统中进行测试。实验结果表明,用本文提出的4次配置图形和测试向量能够完成全覆盖测试。
引用
收藏
页码:1638 / 1643
页数:6
相关论文