FPGA中宽边译码器的测试方法研究

被引:8
作者
廖永波
李平
阮爱武
李文昌
李威
机构
[1] 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室
关键词
FPGA; 宽边译码器; 测试方法; 配置图形; 测试向量;
D O I
10.19650/j.cnki.cjsi.2010.07.033
中图分类号
TN791 [];
学科分类号
080902 ;
摘要
现有的关于FPGA的测试主要集中在可编程逻辑和互连线资源,而没有涉及FPGA中的宽边译码器的测试。本文提出了一种测试FPGA中宽边译码器的方法,该方法实现了FPGA中的宽边译码器的逻辑资源及其相连的长线资源的全覆盖测试。该实验采用Xilinx公司的XC4000E系列芯片,在基于SOC软硬件协同技术的FPGA自动测试系统中进行测试。实验结果表明,用本文提出的4次配置图形和测试向量能够完成全覆盖测试。
引用
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页码:1638 / 1643
页数:6
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