红外面阵探测器DTDI技术的性能分析

被引：3

作者：

苏晓锋 ^{[1
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潘胜达 ^{[1
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龚学艺 ^{[1
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杨育周 ^{[1
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陈凡胜 ^{[1
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机构：

[1] 中国科学院上海技术物理研究所

[2] 中国科学院大学

来源：

红外与激光工程 | 2014年 / 04期

关键词：

DTDI; 红外面阵; BBD; 信噪比; 非均匀性;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN215 [红外探测、红外探测器];

学科分类号：

0803 ; 080401 ; 080901 ;

摘要：

戽链(BBD)结构的CMOS红外模拟TDI探测器,由于其兼容普通CMOS工艺,并可以提高系统的信噪比,因而在空间遥感领域得到了广泛的应用。而基于焦平面面阵的数字TDI(Digital Time Delay and Integration)技术的研究与应用尚在起步阶段。利用中国生产的320×256中波面阵红外探测器进行DTDI研究,对比分析了模拟TDI探测器的电子转移效率、BBD噪声、动态范围等方面的性能,突出了DTDI在结构和性能上的优势,并通过理论推导了DTDI对面阵探测器本身信噪比的提高,非均匀性的改善,同时分析了DTDI过程中盲元对性能的影响。最后,通过实验得到了16级DTDI的信噪比增加为2.5倍,非均匀性减少到1.68%,验证了DTDI技术对系统性能的改善,为DTDI技术的应用提供了理论参考。

引用

页码：1025 / 1031

页数：7

共 6 条

[1] 基于数字TDI技术的红外成像系统设计 [J].