基于杂散参数辨识的IGBT模块内部缺陷诊断方法

被引：36

作者：

周雒维

周生奇

孙鹏菊

机构：

[1] 重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室

来源：

电工技术学报 | 2012年 / 27卷 / 05期

关键词：

IGBT模块; 可靠性; 缺陷; 参数辨识;

D O I：

暂无

中图分类号：

TM461 [整流器]; TN322.8 [];

学科分类号：

080508 [光电信息材料与器件];

摘要：

为识别IGBT模块早期内部缺陷,增强其运行的可靠性,本文提出一种基于杂散参数辨识的IGBT模块内部缺陷的诊断方法。该方法利用最小二乘法辨识IGBT模块门极内部杂散参数因经受电、热老化而导致的变化,进而判断内部是否存在缺陷,及时制定维护措施,从而有效防止运行中突发失效及由此造成的设备损坏。与现有的故障诊断方法相比,其响应时间更充裕,实验研究结果验证了其诊断结论的正确性和实用性。

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页码：156 / 163

页数：8

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