基于改进C-V模型的外绝缘放电紫外图像特征量提取

被引：12

作者：

王丰华 ^{[1
]}

刘国坚 ^{[2
]}

张宏钊 ^{[3
]}

黄荣辉 ^{[3
]}

刘亚东 ^{[1
]}

机构：

[1] 电力传输与功率变换控制教育部重点实验室(上海交通大学)

[2] 上海电力学院电气工程学院

[3] 深圳供电局有限公司

来源：

高电压技术 | 2018年 / 44卷 / 08期

关键词：

边缘检测; C-V模型; 放电区域; 光斑面积; 图像分割; 外绝缘; 紫外成像;

D O I：

10.13336/j.1003-6520.hve.20180731012

中图分类号：

TM855 [绝缘的试验与检查]; TP391.41 [];

学科分类号：

080203 ;

摘要：

为实现紫外(UV)成像技术检测绝缘子缺陷时产生的紫外图像中放电区域的自动准确分割,提出了一种基于改进Chan-Vese(C-V)模型的放电光斑提取方法。通过引入符号距离保持项、用水平集函数梯度的模替代Dirac函数以及简化模型参数来对现有C-V模型进行了改进,然后将其用于获取绝缘子表面放电紫外图像的放电光斑,并给出了基于常规边缘检测算子法、数学形态学的紫外图像分割结果。结果表明:改进后的C-V模型能更为快速准确地分割出紫外成像的目标光斑,且具有较好的抗干扰能力。与现有方法相比较,使用改进的C-V模型来提取放电光斑的准确度提高了5%,且对C-V模型中关键参数的依赖性较小,非常适合于紫外图像特征量的提取。研究结果可为输电线路外绝缘的有效检测提供重要依据。

引用

页码：2525 / 2532

页数：8

共 15 条

[1] 针-板模型交/直流电晕放电的紫外特征参量 [J].