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高压直流GIS中绝缘子的表面电荷积聚的研究
被引:75
作者:
汪沨
方志
邱毓昌
机构:
[1] 西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室
来源:
关键词:
高电压技术;
气体绝缘开关装置;
绝缘子;
电荷积聚;
D O I:
10.13334/j.0258-8013.pcsee.2005.03.020
中图分类号:
TM564 [各种开关];
学科分类号:
摘要:
研究绝缘子表面电荷积聚及其抑制措施,是开发用于直流输电的气体绝缘开关装置(GIS)的一项关键技术。文中设计了一种性能优良的新型电容探头,研究了外施直流电压极性、幅值和作用时间对表面电荷积聚的影响。研究表明,当外施电压的幅值和作用时间增加时,绝缘子表面电荷密度的平均值增加,绝缘子表面电荷分布则与外施电压的极性密切相关。文中还对绝缘子表面电荷积聚的抑制措施进行了分析、讨论。
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