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RFID中天线的优化设计
被引:12
作者
:
张东
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机构:
北京自动测试技术研究所
张东
姜岩峰
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北京自动测试技术研究所
姜岩峰
生晓坤
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机构:
北京自动测试技术研究所
生晓坤
机构
:
[1]
北京自动测试技术研究所
来源
:
电子测量与仪器学报
|
2011年
/ 25卷
/ 07期
关键词
:
自动控制;
片上天线;
电磁仿真;
优化设计;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN820 [一般性问题];
学科分类号
:
摘要
:
RFID(射频识别)芯片可在某些自动控制系统中用于信号的接收与检测,其中天线的集成设计关系到整个系统的体积及性能,因此,天线的集成化设计成为RFID技术研究的一个重点。本文首先用集总参数模型对片上天线进行建模,并采用标准CMOS工艺设计天线,而且用IE3D电磁仿真工具对其进行仿真,验证了片上天线的可行性及实用性,最后讨论了片上天线的优化设计和改进工艺对天线性能的有效提高。
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