基于相关性模型的混合电路系统测试性设计研究

被引:2
作者
王晋阳 [1 ,2 ]
陈圣俭 [1 ]
张胜满 [1 ,3 ]
宋克岭
机构
[1] 装甲兵工程学院控制工程系
[2] 总装备部部队
关键词
混合信号; 电路相关性模型; 边界扫描; BIT; 故障检测;
D O I
10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2011.02.036
中图分类号
TN407 [测试和检验];
学科分类号
摘要
针对测试性设计要求,基于IEEE1149.4标准,利用相关性模型对某控制盒的混合电路系统进行测试性分析与建模,建立被测系统各组成单元与边界扫描测试之间的相关性矩阵,得到优化的边界扫描器件置换与边界扫描结构置入方法.通过制定相应的诊断策略,给出一种通用的混合信号电子系统BIT设计方案.系统验证实验表明,该方法测试迅速,可以有效地提高电子系统测试性.
引用
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