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基于相关性模型的混合电路系统测试性设计研究
被引:2
作者
:
王晋阳
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机构:
装甲兵工程学院控制工程系
总装备部部队
装甲兵工程学院控制工程系
王晋阳
[
1
,
2
]
陈圣俭
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装甲兵工程学院控制工程系
装甲兵工程学院控制工程系
陈圣俭
[
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]
张胜满
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装甲兵工程学院控制工程系
装甲兵工程学院控制工程系
张胜满
[
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,
3
]
宋克岭
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机构:
装甲兵工程学院控制工程系
宋克岭
机构
:
[1]
装甲兵工程学院控制工程系
[2]
总装备部部队
来源
:
微电子学与计算机
|
2011年
/ 28卷
/ 02期
关键词
:
混合信号;
电路相关性模型;
边界扫描;
BIT;
故障检测;
D O I
:
10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2011.02.036
中图分类号
:
TN407 [测试和检验];
学科分类号
:
摘要
:
针对测试性设计要求,基于IEEE1149.4标准,利用相关性模型对某控制盒的混合电路系统进行测试性分析与建模,建立被测系统各组成单元与边界扫描测试之间的相关性矩阵,得到优化的边界扫描器件置换与边界扫描结构置入方法.通过制定相应的诊断策略,给出一种通用的混合信号电子系统BIT设计方案.系统验证实验表明,该方法测试迅速,可以有效地提高电子系统测试性.
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页数:5
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