利用少数相关位的SoC测试数据压缩方法

被引：6

作者：

欧阳一鸣 ^{[1
]}

黄贵林 ^{[1
]}

梁华国 ^{[2
]}

谢涛 ^{[1
,3
]}

黄正峰 ^{[2
]}

机构：

[1] 合肥工业大学计算机与信息学院

[2] 合肥工业大学电子科学与应用物理学院

[3] 美国圣地亚哥州立大学计算机科学系

来源：

电子测量与仪器学报 | 2013年 / 27卷 / 01期

关键词：

相关位; 哈夫曼; 测试数据压缩;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN47 [大规模集成电路、超大规模集成电路]; TP301.6 [算法理论];

学科分类号：

摘要：

随着系统芯片集成度的提高,芯片所需要的测试数据也越来越庞大,为解决由此带来的自动测试设备（ATE）存储容量和带宽之间的矛盾,提出了一种基于数据块之间极少数相同位或极少数不同位的测试数据压缩及解压算法。根据数据块之间这些极少数相同位或极少数不同位,低频次数据块与参与Huffman编码的高频次数据块取得相关性联系,并通过一定的方式共享其较短的哈夫曼码字,从而精简Huffman编码状态表,达到测试数据压缩的目的。与同类经典方案相比,实验表明该方案的平均压缩率提高了6.11%22.89%,且算法简单。

引用

页码：76 / 82

页数：7

共 4 条

[1] 基于部分游程翻转的SoC测试数据压缩 [J].