环境因素对电容型设备介质损耗因数影响规律的试验研究

被引：5

作者：

王永强

律方成

李和明

机构：

[1] 华北电力大学电力系统保护与动态安全监控教育部重点实验室

来源：

绝缘材料 | 2009年 / 42卷 / 01期

关键词：

tanδ; 温度; 湿度; 污秽; 影响; 试验;

D O I：

10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2009.01.015

中图分类号：

TM934.32 [介质损失测量];

学科分类号：

080802 ;

摘要：

根据人工气候室内变压器套管介质损耗因数(tanδ)的在线测量结果,分析了环境因素对电容型设备的tanδ的影响,提出并建立了主要环境因素对tanδ影响的灰关联分析模型,计算得出了主要环境因素对tanδ影响的关联度。结果表明,在没有屏蔽环的情况下,温度、湿度和绝缘表面污秽程度对电容型设备的tanδ均有影响;在有屏蔽环的情况下,温度对电容型设备的tanδ的影响明显大于环境湿度和绝缘表面污秽度对其的影响。

引用

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共 11 条

[1] 人工污秽下盐/灰密对普通悬式绝缘子串交流闪络特性的影响 [J].