基于计算机试验的均匀设计

被引：4

作者：

徐洪泉

沈世镒

机构：

[1] 南开大学数学系

来源：

高校应用数学学报A辑(中文版) | 1998年 / 02期

关键词：

均匀设计，偏差，计算机试验，D－最优准则，最小相关准则，最小距离离差准则，Hamming距离，Lee距离;

D O I：

10.13299/j.cnki.amjcu.000720

中图分类号：

O212.6 [试验分析与试验设计];

学科分类号：

020208 ; 070103 ; 0714 ;

摘要：

本文在计算机试验的基础上，提出了最小相关准则和最小距离离差准则，并将信息论中的Ｈａｍｍｉｎｇ距离和Ｌｅｅ距离引入到计算机试验中，证明了均匀设计在Ｈａｍｍｉｎｇ距离下的最优性和部分好格子点均匀设计在Ｌｅｅ距离下的最优性．基于偏差的考虑，给出了一类新的好格子点均匀设计和一个学习算法，利用这个学习算法，给出了基于Ｌｅｅ距离的最小距离离差准则的均匀设计表的构造方法．通过与已有的好格子点均匀设计和循环拉丁方均匀设计作比较，证明了文中的均匀设计在距离和偏差意义下有更好的均匀性．

引用

页码：51 / 58

页数：8

共 7 条

[1] 均匀设计抽样及其优良性质 [J].