高纯Eu2O3中稀土杂质的化学-X射线荧光光谱法测定

采用锌粉还原-P507萃淋树脂分离和富集高纯Eu2O3中的稀土杂质,用盐酸洗脱,NH4OH沉淀、过滤制片后,用X射线荧光光谱法测定试样中14个稀土杂质。选择了该法制片和测定的各项条件。研究表明该法用基体铕作载体,省去了外加载体并简化了氧化物灼烧过程,且该法大部分稀土元素的测定下限为1μg,回收率为80～120％,变异系数优于14％。