高压瓷质绝缘子红外检测盲区分析

被引：15

作者：

姚建刚 ^{[1
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张也 ^{[1
]}

李唐兵 ^{[2
]}

彭子健 ^{[1
]}

胡淋波 ^{[1
]}

付强 ^{[1
]}

机构：

[1] 湖南大学电气与信息工程学院

[2] 不详

来源：

高电压技术 | 2017年 / 43卷 / 09期

关键词：

瓷质绝缘子; 发热模型; 戴维南等效; 红外图像; 检测盲区;

D O I：

10.13336/j.1003-6520.hve.20170831018

中图分类号：

TM216 [绝缘子和套管];

学科分类号：

摘要：

针对实际检测中存在绝缘子串中劣化绝缘子漏报问题,提出一种基于戴维南等效电路法的红外检测盲区计算方法。在分析盘型悬式绝缘子电压分布的基础上,着重考虑绝缘子红外检测盲区的范围并进行定量的分析。结果表明:电压分布和温度差范围是影响盲区范围大小的两大核心因素,并得到盲区范围和2者的变化曲线。根据检测盲区变化规律,提出绝缘子串分段处理,温度范围差异选择等一系列减小红外检测盲区的方法。检测盲区的确定对红外检测技术的应用有巨大的促进作用;检测盲区的减少,对发现严重劣化绝缘子,提高红外检测的准确率和减少电网故障有重要指导意义。

引用

页码：2903 / 2910

页数：8

共 15 条

[1] 1000kV支柱瓷绝缘子自然积污规律试验研究 [J].