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空基紫外成像仪关键器件ICCD非均匀性校正技术
被引:6
作者
:
王加朋
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机构:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
王加朋
王淑荣
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
王淑荣
李福田
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
李福田
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机构:
宋克非
机构
:
[1]
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
来源
:
光学精密工程
|
2007年
/ 09期
关键词
:
紫外成像仪;
ICCD;
非均匀性;
线性校正;
两点多段校正法;
噪声补偿;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN23 [紫外技术及仪器];
学科分类号
:
0803 ;
080401 ;
080901 ;
摘要
:
从理论上分析了ICCD光电响应非均匀性的产生机理,并由此建立光电响应数学模型。基于两点多段非均匀性校正算法给出了ICCD非均匀性校正方程,并通过大量实验得到ICCD在特定条件下的校正系数。在实验过程中发现IC-CD的雪花点(主要由探测器的随机噪声引起)和盲点是影响非均匀性改善的主要因素,采取相应照度的响应进行了补偿。结果表明:通过补偿和校正输出图像,可以有效地减小紫外成像仪由探测器的非均匀性所带来的测量误差,使非均匀性降低了37.1%,在一定程度上减少了由于ICCD的物理特性和制造缺陷所带来的固有图像噪声。
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电晕探测紫外ICCD相机图像噪声分析与处理
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
于子江
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于晓
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空军航空大学信息中心
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
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娄洪伟
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2006,
(04)
:303
-307
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利用积分球光源定标空间紫外遥感光谱辐射计
[J].
王淑荣
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室
王淑荣
;
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邢进
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2006,
(02)
:185
-190
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红外焦平面器件盲元检测及补偿算法
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周慧鑫
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赖睿
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光子学报,
2004,
(05)
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-600
[5]
CCD像素响应不均匀性的校正方法
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陈迎娟
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陈迎娟
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张之江
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上海大学通信与信息工程学院
张之江
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张智强
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上海大学通信与信息工程学院
张智强
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不详
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不详
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光学精密工程 ,
2004,
(02)
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-220
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红外焦平面探测器非均匀性的简化数学模型
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董珍时
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刘小波
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激光与红外,
2003,
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-211
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低强度X射线影像系统的噪声分析及图像去噪处理
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端木庆铎
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富丽晨
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发光学报,
2002,
(06)
:615
-618
[8]
光电成像原理与技术[M]. 北京理工大学出版社 , 白廷柱, 2006
[9]
CCD技术及应用[M]. 电子工业出版社 , 蔡文贵等编著, 1992
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共 9 条
[1]
电晕探测紫外ICCD相机图像噪声分析与处理
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隋永新
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
隋永新
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机构:
杨怀江
.
光学精密工程 ,
2006,
(04)
:709
-713
[2]
微光夜视技术的进展与展望
[J].
艾克聪
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机构:
西安应用光学研究所
艾克聪
.
应用光学,
2006,
(04)
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[3]
利用积分球光源定标空间紫外遥感光谱辐射计
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王淑荣
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机构:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室
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邢进
;
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光学精密工程,
2006,
(02)
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红外焦平面器件盲元检测及补偿算法
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;
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光子学报,
2004,
(05)
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CCD像素响应不均匀性的校正方法
[J].
陈迎娟
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陈迎娟
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张之江
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张智强
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不详
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上海大学通信与信息工程学院
不详
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光学精密工程 ,
2004,
(02)
:216
-220
[6]
红外焦平面探测器非均匀性的简化数学模型
[J].
董珍时
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华北光电技术研究所
董珍时
;
刘小波
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机构:
华北光电技术研究所
刘小波
.
激光与红外,
2003,
(03)
:208
-211
[7]
低强度X射线影像系统的噪声分析及图像去噪处理
[J].
但唐仁
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长春理工大学电信学院
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田景全
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高延军
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端木庆铎
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富丽晨
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机构:
长春理工大学电信学院
富丽晨
.
发光学报,
2002,
(06)
:615
-618
[8]
光电成像原理与技术[M]. 北京理工大学出版社 , 白廷柱, 2006
[9]
CCD技术及应用[M]. 电子工业出版社 , 蔡文贵等编著, 1992
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