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图像处理在晶圆瑕疵自动标记系统中的应用
被引:5
作者
:
蒋登峰
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机构:
杭州市士兰微电子股份有限公司
杭州市士兰微电子股份有限公司
蒋登峰
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周娟
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机构
:
[1]
杭州市士兰微电子股份有限公司
[2]
中国计量学院质量与安全工程学院
来源
:
中国计量学院学报
|
2009年
/ 20 卷
/ 02期
关键词
:
图像处理;
晶圆瑕疵;
最小二乘法;
坐标变换;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN305 [半导体器件制造工艺及设备];
学科分类号
:
1401 ;
摘要
:
针对传统晶圆测试手工标记瑕疵的不足,提出了应用机器视觉技术进行晶圆瑕疵的自动标记.首先,对晶圆图像进行预处理,提取晶圆边缘图像;其次,利用最小二乘法检测晶圆的直径.在此基础上通过坐标变换获得晶圆瑕疵的坐标,将其传递给探针台,由探针台自动将有瑕疵的晶圆剔除.最后,通过实验验证了该方法的实用性与有效性.
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