EXPERIMENT ON THE ABSOLUTE MEASUREMENT OF A SILICON LATTICE SPACING AT THE NRLM

被引：12

作者：

TANAKA, M

NAKAYAMA, K

KURODA, K

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT | 1989年 / 38卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1109/19.192273

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：206 / 209

页数：4

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共 12 条

[11] MONOLITHIC GONIOMETER FOR PURE ROTATION AND FINE ORIENTATION CONTROL [J].

TANAKA, M ;

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JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS, 1982, 21 (06) :955-956

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