OPTIMIZED ACQUISITION PARAMETERS AND STATISTICAL DETECTION LIMIT IN QUANTITATIVE EELS

被引：19

作者：

PUN, T

ELLIS, JR

EDEN, M

机构：

来源：

JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1984年 / 135卷 / SEP期

关键词：

D O I：

10.1111/j.1365-2818.1984.tb02535.x

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：295 / 316

页数：22

共 27 条

[1]

ANCEY M, 1977, 8TH P INT C XRAY OPT, P49

BUTLER, JH ;

WATARI, F ;

HIGGS, A .

[3]

Daniel C., 1980, FITTING EQUATIONS DA

[4]

Duda R. O., 1973, PATTERN CLASSIFICATI

[5] THICKNESS DEPENDENCE OF THE STEM RATIO IMAGE [J].

EGERTON, RF .

[6] INELASTIC-SCATTERING OF 80 KEV ELECTRONS IN AMORPHOUS CARBON [J].

EGERTON, RF .

PHILOSOPHICAL MAGAZINE, 1975, 31 (01) :199-215

[7] A REVISED EXPRESSION FOR SIGNAL NOISE RATIO IN EELS [J].

EGERTON, RF .

[8]

Fiori C.E., 1982, MICROBEAM ANAL 1982, P57

[9]

GORLEN KE, 1982, FALL P DECUS US M, P9

ISAACSON, M ;

JOHNSON, D .