PROBING OF IMPURITY CENTERS AND CONDUCTION LEVELS IN SEMICONDUCTING DIAMOND USING A MIMS SYSTEM

被引：2

作者：

LEPEK, A ^{[1
]}

LEVINSON, J ^{[1
]}

HALPERIN, A ^{[1
]}

机构：

[1] HEBREW UNIV,RACAH INST,JERUSALEM,ISRAEL

来源：

PHYSICS LETTERS A | 1975年 / A 51卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1016/0375-9601(75)90639-8

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

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页码：345 / 347

页数：3

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共 3 条

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