DIRECTION OF ELECTROMIGRATION IN GOLD THIN-FILMS

被引：13

作者：

BLECH, IA

ROSENBERG, R

机构：

[1] TECHNION ISRAEL INST TECHNOL,HAIFA,ISRAEL

[2] IBM CORP,THOMAS J WATSON RES CTR,YORKTOWN HTS,NY 10598

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.321662

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：579 / 583

页数：5

共 5 条

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