TRANSIENT RADIATION SCREENING OF SILICON DEVICES USING BACKSIDE LASER IRRADIATION

被引：15

作者：

KING, EE

AHLPORT, B

TETTEMER, G

MULKER, K

LINDERMAN, P

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1982.4336452

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：1809 / 1815

页数：7

共 5 条

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