SIZE EFFECTS IN RESISTIVITY OF EPITAXIAL-FILMS OF SILVER

被引：9

作者：

BERMAN, A ^{[1
]}

JURETSCHKE, HJ ^{[1
]}

机构：

[1] POLYTECH INST NEW YORK,BROOKLYN,NY 11201

来源：

PHYSICAL REVIEW B | 1975年 / 11卷 / 08期

关键词：

D O I：

10.1103/PhysRevB.11.2893

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：2893 / 2902

页数：10

共 21 条

BERMAN, A .

[2]

BERMAN A, 1971, B AM PHYS SOC, V16, P144

[3] ORIGIN OF METALLIC FIELD-EFFECT [J].

BERMAN, A ;

JURETSCHKE, HJ .

PHYSICAL REVIEW B, 1975, 11 (08) :2903-2912

[4]

BERMAN A, 1970, THESIS POLYTECHNIC I

[5]

BRANDLI G, 1965, HELV PHYS ACTA, V38, P801

[6]

CAMPBELL DS, 1966, USE THIN FILMS PHYSI, P314

[7]

Chopra K. L., 1969, THIN FILM PHENOMENA

[8]

CHOPRA KL, 1967, J APPL PHYS, V38, P144

[9] THERMAL EXPANSION COEFFICIENTS OF RUBY MUSCOVITE MICA [J].

GOLDSTEIN, L ;

POST, B .

[10]

HALL LA, 1968, NBS365 TECH NOT