ON-CHIP PICOSECOND TIME-DOMAIN MEASUREMENTS FOR VLSI AND INTERCONNECT TESTING USING PHOTOCONDUCTORS

被引:6
作者
EISENSTADT, WR
HAMMOND, RB
DUTTON, RW
机构
[1] STANFORD UNIV, INTEGRATED CIRCUITS LAB, STANFORD, CA 94305 USA
[2] UNIV CALIF LOS ALAMOS NATL LAB, DIV ELECTR, LOS ALAMOS, NM 87545 USA
关键词
D O I
10.1109/T-ED.1985.21950
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
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页码:364 / 369
页数:6
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