INFLUENCE OF SOURCE-DRAIN SERIES RESISTANCE ON MOSFET FIELD-EFFECT MOBILITY

被引:17
作者
CABONTILL, B
GHIBAUDO, G
CRISTOLOVEANU, S
机构
[1] Ecole Natl Superieure d'Electronique, et de Radio-Electricite de Grenoble,, Lab de Physique des Composants a, Ecole Natl Superieure d'Electronique et de Radio-Electricite de Grenoble, Lab de Physique des Compo
关键词
D O I
10.1049/el:19850324
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
4
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共 4 条
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