MICROPOROSITY AND ADHESION OF ION BOMBARDED THIN SILICON SURFACE-FILMS

被引:19
作者
ENSINGER, W
BARTH, M
WOLF, GK
机构
关键词
D O I
10.1016/0168-583X(88)90190-5
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
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页数:7
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