RANGE OF VALIDITY OF THE SURFACE-PHOTOVOLTAGE DIFFUSION LENGTH MEASUREMENT - A COMPUTER-SIMULATION

被引：107

作者：

MCELHENY, PJ ^{[1
]}

ARCH, JK ^{[1
]}

LIN, HS ^{[1
]}

FONASH, SJ ^{[1
]}

机构：

[1] PENN STATE UNIV,ENGN SCI PROGRAM,UNIVERSITY PK,PA 16802

来源：

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1988年 / 64卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1063/1.341843

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

收藏

页码：1254 / 1265

页数：12

相关论文

共 14 条

[11] SCHWARTZ RJ, 1984, 17TH P IEEE PHOT SPE, P369
[12] DIFFERENTIAL SURFACE PHOTOVOLTAGE MEASUREMENT OF MINORITY-CARRIER DIFFUSION LENGTH IN THIN-FILMS
SCHWARZ, R
SLOBODIN, D
WAGNER, S
[J]. APPLIED PHYSICS LETTERS, 1985, 47 (07) : 740 - 742
[13] SCHWARZ R, 1985, 18TH P IEEE PHOT SPE, P1290
[14] TAYLOR GW, 1972, J NONCRYST SOLIDS, V8, P940