FLICKER NOISE IN MOSFETS WITH GATE-VOLTAGE-DEPENDENT MOBILITY

被引：4

作者：

DUH, KH

VANDERZIEL, A

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0038-1101(84)90153-9

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：459 / 461

页数：3

共 3 条

[1] CHARACTERIZATION OF LOW 1/F NOISE IN MOS TRANSISTORS [J].

KLAASSEN, FM .

PARK, HS ;

VANDERZIEL, A ;

ZIJLSTRA, RJJ ;

LIU, ST .

VANDERZIEL, A ;

BOSMAN, G .