MOS MODELING HIERARCHY INCLUDING RADIATION EFFECTS

被引:2
作者
ALEXANDER, DR [1 ]
TURFLER, RM [1 ]
机构
[1] BDM CORP, 2600 YALE BLVD SE, ALBUQUERQUE, NM 87106 USA
关键词
D O I
10.1109/TNS.1975.4328177
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
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页码:2611 / 2616
页数:6
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