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MOS MODELING HIERARCHY INCLUDING RADIATION EFFECTS
被引:2
作者
:
ALEXANDER, DR
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0
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0
机构:
BDM CORP, 2600 YALE BLVD SE, ALBUQUERQUE, NM 87106 USA
BDM CORP, 2600 YALE BLVD SE, ALBUQUERQUE, NM 87106 USA
ALEXANDER, DR
[
1
]
TURFLER, RM
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机构:
BDM CORP, 2600 YALE BLVD SE, ALBUQUERQUE, NM 87106 USA
BDM CORP, 2600 YALE BLVD SE, ALBUQUERQUE, NM 87106 USA
TURFLER, RM
[
1
]
机构
:
[1]
BDM CORP, 2600 YALE BLVD SE, ALBUQUERQUE, NM 87106 USA
来源
:
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
|
1975年
/ 22卷
/ 06期
关键词
:
D O I
:
10.1109/TNS.1975.4328177
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页码:2611 / 2616
页数:6
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