EFFECTS OF RANDOM SURFACE-ROUGHNESS IN PIXE ANALYSIS OF THICK TARGETS

被引：30

作者：

CAMPBELL, JL ^{[1
]}

LAMB, RD ^{[1
]}

LEIGH, RG ^{[1
]}

NICKEL, BG ^{[1
]}

COOKSON, JA ^{[1
]}

机构：

[1] AERE,HARWELL OX11 0RA,OXON,ENGLAND

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0168-583X(85)90040-0

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：402 / 412

页数：11

共 5 条

AHLBERG, M ;

AKSELSSON, R .

INTERNATIONAL JOURNAL OF APPLIED RADIATION AND ISOTOPES, 1976, 27 (5-6) :279-290

[2] PIXE ANALYSIS OF THICK TARGETS [J].

CAMPBELL, JL ;

COOKSON, JA .

[3] SPECIMEN SURFACE EFFECTS IN THICK-TARGET PIXE ANALYSIS [J].

COOKSON, JA ;

CAMPBELL, JL .

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH, 1983, 216 (03) :489-495

[4]

Dahlmann H., 1984, Nucl. Instr. Meth, VB1, P41

[5] SURFACE-TOPOLOGY USING RUTHERFORD BACKSCATTERING [J].

EDGE, RD ;

BILL, U .

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS, 1980, 168 (1-3) :157-162